分析方法能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量
同時檢測元素數(shù)幾十種元素可同時分析
處理器和內(nèi)存CPU：667MHz,內(nèi)存：256M，擴展存儲最大支持32G，標配2G，可以海量存儲數(shù)據(jù)
含量范圍ppm～99.99%
檢測時間3-30秒
GPS、WIFI內(nèi)置系統(tǒng)
檢測對象固體、液體、粉末
探測器25mm2 0.3mil，SDD探測器
探測器分辨率最低可達139eV
激發(fā)源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
視頻系統(tǒng)高清晰攝像頭
顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480
檢出限最低檢出限達ppm級
安全性自帶密碼管理員模式，數(shù)據(jù)可隨意保存
可充氣系統(tǒng)常壓充氦氣系統(tǒng)
數(shù)據(jù)傳輸數(shù)字多道技術，SPI數(shù)據(jù)傳輸，分析，高計數(shù)率
操作環(huán)境濕度≤90%
儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W）
儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）
手持式光譜分析儀可鑒別金屬材料的牌號，廣泛應用于石油，化工，電廠，天然氣，煤氣等行業(yè)的壓力容器，管道閥門安裝以及現(xiàn)場確認材料，也應用于廢料回收，混料檢驗篩選，以及原材料牌號確認，尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認以及定量測量元素。
合金分析儀技術性能：
1. 真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。 2. 只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面，無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定合金等級。 3. 被檢測的樣品的對象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。 4. 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認。 5. 手式可延伸的探頭設計能對管道內(nèi)部、焊縫,等位置進行檢測。 6. 可檢測溫度高達450℃的高溫材料。 7. 可現(xiàn)場在庫中添加,編輯,合號。 8. 快的分析速度,僅需2秒鐘可識別合金元素。 9. 用戶化windowsCE6.0系統(tǒng)驅動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成，用戶化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關的性能，使程序更具靈活性。 10. 無需借助電腦，可在現(xiàn)場隨意，查看，放大相關元素的光譜圖。 11. 防塵,防霧,防水：一體機設計，軟膠與塑膠部件凸槽凹槽構造設計，使儀器具有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作。 12 更高的檢測精度，多次測試的平均值統(tǒng)計功能可有效地提高儀器的檢測精度。 13 超大的圖標顯示，菜單式驅動，微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡便。 14. 電磁干擾被屏蔽，即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作。
手持式光譜儀用于的定量定性分析：
手持式光譜儀是一種功能強大,并且可擴展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號鑒別和分選.它包括激發(fā)和配有可充電電池的光譜儀主機兩部分.它工作時,既不需要氬氣,也不需要放射源。 1、原理：手持式光譜儀屬于熒光光譜,實驗室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發(fā)源不同 2、精度：手持式光譜儀主要用于定性分析,實驗室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍：手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無法激發(fā)的基體,例如鋯基體；實驗室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類比手持式的要多。
手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素：多至26個元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非授權人員無法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進行編輯，可導入PC機進行 保存打印，配備海量存儲卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內(nèi)層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有： (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。 (2)標樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結構不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學分析方法分析多次校對結果。
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