手持式光譜儀使用要求： 對(duì)于操作人員是有一定要求的，測(cè)試樣品前一定要請(qǐng)儀器廠商的技術(shù)人員現(xiàn)場(chǎng)演示，并且對(duì)技術(shù)人員做操作前的培訓(xùn)。因?yàn)檫@款儀器是檢測(cè)元素，那么一定會(huì)要做放樣檢測(cè)，所以，技術(shù)人員還需要做好防。 對(duì)于環(huán)境也是有一定的要求，不要在潮濕的環(huán)境下工作的，環(huán)境濕度0-95%之間為好，不能在太高溫下操作工作，這樣的理由是避免各類(lèi)磁場(chǎng)的干擾，如此儀器分析的時(shí)候才能檢測(cè)出更的精度。所以，大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度，很多時(shí)候儀器檢測(cè)不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。 對(duì)于檢測(cè)的樣品也要一些小要求，被測(cè)的物品表面必須光滑、整潔，如此才能避免其他元素的干擾被測(cè)物品的表面是有油污，或重金屬污染，那么檢測(cè)出來(lái)的結(jié)果度沒(méi)那么高，所有儀器都不是的。其實(shí)，手持式光譜儀的操作看起來(lái)很復(fù)雜，但是按照技術(shù)人員的指示一步步去操作，沒(méi)你想的那么復(fù)雜了。
手持式光譜儀的應(yīng)用非常廣泛，涉及：電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開(kāi)采、礦石分選、礦產(chǎn)貿(mào)易、金屬冶煉、環(huán)境監(jiān)測(cè)、土壤監(jiān)測(cè)、玩具、服裝、鞋帽、電子產(chǎn)品等眾多領(lǐng)域。便宜、的手持式拉曼光譜儀正在迅速成為原料藥采購(gòu)質(zhì)量控制的有力工具。拉曼光譜儀是未知化合物的有力工具，例如檢測(cè)高純度化學(xué)品、成分驗(yàn)證和高分子材料的表征。拉曼光譜儀器大受歡迎主要是由于現(xiàn)代儀器所配備的智能決策軟件和譜圖庫(kù)，使得它成為理想的分子指紋圖譜分析技術(shù)。不同于傳統(tǒng)的分子光譜技術(shù)，拉曼光譜儀可用于生產(chǎn)環(huán)境或現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用，因?yàn)樗墚a(chǎn)生尖銳、特異的譜峰，幾乎不需要樣品前處理或直接與樣品接觸。此外，它還具有特的能力，可以通過(guò)透明的包裝材料，如玻璃或塑料，直接測(cè)試樣品，并對(duì)光譜信息沒(méi)有任何干擾。手持式光譜儀正在成為原料藥采購(gòu)中質(zhì)量控制的有力分析工具。其被廣泛接受的原因是，它用于倉(cāng)庫(kù)化學(xué)品的識(shí)別，比傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室分析技術(shù)更具成本效益。

對(duì)于金屬制造行業(yè)來(lái)說(shuō) ,質(zhì)量控制和非常重要。材料檢驗(yàn)是確保金屬制品使用合格材質(zhì)的關(guān)鍵。如 果使用不合格的金屬合金,會(huì)引起災(zāi)難性事故,給企業(yè) 帶來(lái)巨大的經(jīng)濟(jì)損失。手持合金成分分析儀是檢測(cè)金屬材料是否合格的關(guān)鍵性手段。有了手持式合金分析儀，質(zhì)量控制以及檢測(cè)人員可以 在完全無(wú)損的條件下,每天地檢測(cè)上千個(gè)金屬合金樣 品。即使是普通工作人員也有把握地將大量的 樣 品 測(cè) 出 完 整 而 準(zhǔn)確 的 結(jié) 果 。測(cè)試時(shí)間是1~2秒,無(wú)需制備樣品,從金屬細(xì)絲到成品焊點(diǎn),螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持分析儀檢測(cè)。

手持式光譜儀器具有小巧便攜、操作快捷,體積很小，便攜、方便野外工作，隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析，設(shè)備無(wú)需預(yù)熱，可直接測(cè)試。 手持式xrf熒光光譜儀的特點(diǎn)是無(wú)損、檢測(cè).手持合金測(cè)試儀既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試，也能使用座式對(duì)樣品進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的精細(xì)測(cè)試，10秒即可進(jìn)行接近實(shí)驗(yàn)室精度的測(cè)量，整個(gè)檢測(cè)過(guò)程被測(cè)樣品無(wú)任何損壞。高清攝像頭檢測(cè)更加 內(nèi)置500萬(wàn)高清晰攝像頭，可以隨時(shí)觀察被測(cè)樣品的測(cè)試位置。

手持式分析儀 探測(cè)器：13mm2 電致冷Si-PIN探測(cè)器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測(cè)時(shí)間：10-200秒（可手持式或座立式測(cè)試） 檢測(cè)對(duì)象：固體、液體、粉末 檢測(cè)范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時(shí)分析元素：多至26個(gè)元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非授權(quán)人員無(wú)法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯，可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行 保存打印，配備海量存儲(chǔ)卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時(shí)
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來(lái)源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。
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